【摘要】引领射频微波测试行业发展安捷伦参加首届国际无线会议及展览 2013年4月26日,北京——日前,首届国际无线会议(IWS)及展览(IEEE MTT-S IWS)在京举行.作为全球最大的测试测量公司,安捷伦科技(NYSE:A)是本次会议的白金赞助商.以"引领射频微波测试"为会议主题,安捷伦电子测量事业部首席科学家、国际微波元器件测试技术的领军人Joel Dunsmore先生、以及来自全球的资深测试专家参加了本次活动,他们与中国业内专家一起,共同探讨国防电子、微波和通信领域的众多前沿课题.
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