【摘要】研究了用飞利浦PW-1404X荧光仪所带有的自动扣除背景,计算经验X系数和干扰校正系数,多种基体校正数学模式校正基体效应和元素间谱线干扰等功能,采用粉末直接压片法来测定复杂15个单一稀土元素,可取得满意结果。
【关键词】
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